Du har indtastet en værdi, som indeholder ugyldige tegn, i nedenstående fremhævede felter. Gennemse dit valg, og brug kun gyldige tegn.
Produktet er muligvis ikke et nøjagtigt match til din søgning
Du har tidligere købt dette produkt.
Se i ordrehistorik
TPP0502
Oscilloscope Probe, Passive, 500 MHz, 300 V, 2:1
- Producent:
- TEKTRONIX TEKTRONIX
- Producentens varenummer:
- TPP0502
- Varenummer:
- 1877505
- Teknisk datablad:
- TPP0502 Datablad
Produktoplysninger
Vil du at se lignende produkter? Vælg blot de ønskede attributter nedenfor og tryk på knappen ×
- :
- Passive
- :
- 500MHz
- :
- 300V
- :
- 2:1
- :
- Tektronix MDO3000, MDO4000B, MSO/DPO4000B & MSO/DPO5000B Series Oscilloscopes
- :
- -
Tekniske dokumenter (3)
CAD Downloads
--Vælg venligst...
✔
--Vælg venligst...
×
Salgs- og leveringsbetingelser
CAD Models - Notice
CAD Models and drawings are provided to you on a revocable limited licence for your internal use only but remain the property of the manufacturer who retain all intellectual property rights and ownership. They are provided to assist you in decision making and as design guide but are not guaranteed to be error free, accurate or up to date and is not intended to be taken as advice.
Use of these CAD models and other options provided are downloaded and used entirely at your own risk and by continuing you confirm acceptance of the above.
Produktoversigt
The TPP0502 is a Passive Voltage Probe offers the industry's highest bandwidth (500MHz) and lowest attenuation factor (2X) for making low-voltage measurements such as ripple, a common measurement on the output of power supplies. The low capacitive loading of the probe means long ground leads can also be used on this probe with minimal impact on measurement quality, providing today's engineer with the flexibility to move around their design without worrying about ground lead length. It is designed for use with the MSO/DPO4000B and MSO/DPO5000 series oscilloscopes.
- Compact probe head for probing small-geometry circuit elements
- Small probe body for enhanced visibility to the device-under-test
- Rigid tip for secure device-under-test connectivity
- Replaceable probe tip cartridges
- Large accessory set for versatile connectivity
Applikationer
Test & Measurement, Industrial
Bedst sælgende
Tilgængelig for producentens leveringstid 6 uger
Bestil nu. Betal intet før produkterne er afsendt
×
6
Du kan reservere fra lager nu bestil bare det ønskede antal og gå til kassen som normalt. Den mængde, der ikke kan sendes nu, placeres i restordre og sendes så snart vi får en levering fra vores leverandør. Du opkræves først, når produkterne afsendes til dig.
På grund af markedsforhold er leveringstiderne kun til generel vejledning og kan ændres med kort varsel
Total:
Total: ( )
Total: --
Filtreringsværktøj